機(jī)器的小故障有時(shí)會(huì)導(dǎo)致zui終產(chǎn)品受到污染。金屬顆粒可以從機(jī)器的運(yùn)動(dòng)部件中分離出來(lái)，因?yàn)樗鼤?huì)在產(chǎn)品上產(chǎn)生摩擦和沉積，有時(shí)會(huì)降低產(chǎn)品質(zhì)量。這篇博客描述了的一項(xiàng)技術(shù)，不僅可以檢查污染的存在，而且還可以識(shí)別它的起源。

搜尋和消除：產(chǎn)品污染

無(wú)論是生產(chǎn)食品、電子設(shè)備還是冶金部件，精密機(jī)械的引進(jìn)使生產(chǎn)過(guò)程變得工業(yè)化和自動(dòng)化。這些機(jī)器有的壽命較短，有時(shí)在一定的操作時(shí)間后就會(huì)產(chǎn)生缺陷，因?yàn)樗鼈兪怯山到獠牧现瞥傻模虼藭?huì)產(chǎn)生小顆粒。

這些微粒zui終會(huì)沉積在產(chǎn)品上，污染食物，可能會(huì)產(chǎn)生有毒金屬。它們可能損壞探測(cè)器或印刷電路板（PCB），甚至成為氧化過(guò)程的起源，這將損害機(jī)械部件的使用效率。

因此，關(guān)鍵不只是檢測(cè)這些粒子，還要追蹤它們的來(lái)源，這樣生產(chǎn)線上的操作人員就可以消除這個(gè)問(wèn)題。根據(jù)污染顆粒的性質(zhì)和大小，有幾種調(diào)查方法可供選擇。一些技術(shù)被證明是更有效的，因?yàn)樗麄兂浞掷昧瞬牧系幕瘜W(xué)和物理性質(zhì)進(jìn)行分析。

電子顯微鏡檢測(cè)粒子

對(duì)小型工業(yè)來(lái)說(shuō)，電子顯微鏡的出現(xiàn)，揭示了一種全新的檢測(cè)污染的方法，一種比以往使用的方法更有效和準(zhǔn)確的方法。。掃描電鏡目前在使用便捷性，分析速度方面有巨大的改善，臺(tái)式掃描電鏡以更低的使用成本獲得了小型企業(yè)用戶(hù)的青睞。

通過(guò)使用掃描電鏡（SEM）的背散射電子探測(cè)器（BSD），可以產(chǎn)生樣品和粒子的高倍放大圖， 不同的對(duì)比度突顯出不同的成分。