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DENS Wildfire TEM 原位加熱方案
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01 產品概況
Wildfire 原位加熱系統是為了探索材料在高溫下的反應和狀態變化的研究人員而設計的，其*的穩定性超越了市場上大部分的同類產品，允許從室溫加熱到1300℃，并在所有的方向上保證優異的溫度控制和樣品穩定，確保了在高溫下觀察樣品動態時，TEM能保持最高的分辨率和分析性能。
同時，設計的芯片和4點探針法，可通過快速反饋實現溫度的局部測量，從而實現即時穩定和精確的溫度控制。對于需要進行高溫下三維重構研究的客戶，我們也配備了α傾轉角達到70°的樣品桿，便于客戶進行多方位的研究。
02 產品特點
樣品制備簡單便捷 1. 可簡單快速地進行薄膜轉移 大面積范圍內都保持平整，方便轉移樣品薄膜 2. 滴加的樣品顆粒都在視野中 樣品直接滴加到芯片上，可有效的降低毛細效應 3. 優質的 FIB 樣品薄片 使用我們專有的 FIB 樣品臺可輕松制備樣品薄片，并直 接在芯片上進行最終減薄，而不會影響加熱性能。 |
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可靠的加熱控制 1. 準確的溫度控制 通過四探針法加熱可以在所有的溫度達到精準控制，溫 度穩定性偏差 ≤ 0.005°C。 2. 全可視區域的超高溫度均勻性 溫度均勻性偏差小于 0.5%。 3. 支持客戶親自驗證其準確性和均勻性 客戶可通過使用 EELS 和 SAED 技術在透射電鏡 （TEM）中直接驗證溫度。
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高質量結果 1. 高穩定性 即使溫度高達 1000 °C，漂移率也小于 200 nm，并且可 以在最短的時間內穩定。 2. 不受影響的 STEM/TEM 性能 極小的 Z 方向位移（膨脹）有效保持了 TEM 的最佳分辨 率，而不需要頻繁移動樣品臺來達到同研發的目的。 3. 優異的分析能力 微型加熱器極大地降低紅外輻射，可在高達 1000 °C 的 溫度下進行 EDS 分析。
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03. 案例分享
下圖是 Wildfire 原位樣品桿在 1000℃ 下采集到的 PdAu 納米顆粒的 mapping 圖譜，得到了高質量的 EDS 信號，使得高溫下的 EDS 分析成為可能。當前，許多科學家借助 Wildfire 原位樣品桿在高影響因子的期刊上發表了高質量的文章，而利用原位透射電鏡了解材料的形態和成分變化，也在科研領域越來越受歡迎了。
04 應用領域
05 原位實驗技術簡介
透射電子顯微鏡（TEM）一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現，科學家已經可以實現在原子尺度上對材料的化學結構進行表征成像。此外，TEM 的進步也帶動了 CCD 相機的發展，這樣，TEM 就同時具有優異的空間分辨率和時間分辨率，那么時間和空間的結合，是否可以讓 TEM 動起來？
眾所皆知，TEM 需要在高真空條件下表征靜止狀態下的樣品，但這不足以反映材料在真實環境下的微觀結構。為此，荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學家利用最新的 MEMS 技術，設計出的納米芯片，據此可以向 TEM 中引入動態外界刺激條件，模擬樣品在真實環境下的狀態，打破壓力的限制，記錄樣品的動態變化過程，讓 TEM真正的實現動起來。
荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術先進的、納米尺度的原位顯微工具，其產品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激，捕捉 TEM 樣品在真實環境下的動態現象。目前，已經可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態。
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